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        Omni多角度粒度及高靈敏度Zeta電位分析儀

        Omni多角度粒度及高靈敏度Zeta電位分析儀

        • 產(chǎn)品型號:OMNI
        • 更新時間:2024-10-21
        • 產(chǎn)品介紹:Omni多角度粒度及高靈敏度Zeta電位分析儀結(jié)合了背向光散射技術(shù)與傳統(tǒng)動態(tài)光散射技術(shù)以及硬件PALS(Phase Analysis Scattering,相位分析光散射)技術(shù),擁有15°,173°、90三個散射角度,突破了傳統(tǒng)單角度光散射儀測量的局限性,硬件PALS技術(shù)*解決了低電泳遷移率體系Zeta電位的測量。
        • 廠商性質(zhì):經(jīng)銷商
        • 在線留言 029-89188319 15399059159

        產(chǎn)品介紹

        作為將背向光散射技術(shù)(Back-Scattering)引入高濃度粒度分析的廠家,Brookhaven公司應(yīng)用全新的光纖技術(shù)將背向光散射技術(shù)與傳統(tǒng)動態(tài)光散射技術(shù)進行了結(jié)合,突破性地推出了結(jié)合15°、90°與173°三個散射角度與硬件PALS(相位分析光散射)技術(shù)的Omni多角度粒與高靈敏度Zeta電位分析儀。隨著Omni的出現(xiàn),突破了傳統(tǒng)單角度光散射儀測量的局限性,實現(xiàn)在同一臺粒度分析儀中,既可以同時兼顧大、小顆粒的散射光信號,又可以有效地提高了測量濃度上限,可達40%wt;硬件PALS技術(shù)(與傳統(tǒng)基于頻移技術(shù)的光散射方法相比,靈敏度可提高1000倍)的應(yīng)用,*解決了長期以來無法對諸如在低介電常數(shù)、高粘度、高鹽度以及等電點附近這些測量條件下(電泳遷移率比通常水相條件下低10-1000倍,傳統(tǒng)方法沒有足夠的分辨率進行測量)的樣品進行分析的難題。Omni是目前市場上功能強大的粒度與Zeta電位分析儀。


        NanoBrook產(chǎn)品系列

        項目

        90Plus

        173

        173Plus

        ZetaPlus

        ZetaPALS

        Omni

        粒度測量

        分子量測量

        Zeta電位測量

        技  術(shù)  參  數(shù)

        粒度范圍

        0.3nm-10μm

        0.3nm-10μm

        0.3nm-10μm

        0.3nm-10μm

        分子量范圍

        342~2×107Dalton

        342~2×107Dalton

        342~2×107Dalton

        342~2×107Dalton

        散射角

        15°、90°

        173°

        15°、90°、173°

        15°、90°、173°

        相關(guān)器

        4×1011個線性通道

        4×1011個線性通道

        4×1011個線性通道

        4×1011個線性通道

        電導(dǎo)率范圍

        0-20S/m

        0-30S/m

        電泳遷移率

        范圍

        10-10-10-7m2/V.s

        10-11-10-7m2/V.s

        適用粒度范圍

        1nm~100μm

        *型電

        系 統(tǒng) 參 數(shù)

        溫度控制

        -5~110℃,±0.1℃

        激光源

        40mW光泵半導(dǎo)體激光器

        檢測器

        高靈敏雪崩型二管(APD),超高量子效應(yīng)(>65%)

        分析軟件

        Particle Solution粒度與Zeta電位分析軟件

        微流變

        檢測弱結(jié)構(gòu)溶液的粘彈性信息

        膜電位

        固體表面膜電位測量

        在線測量

        粒度及Zeta電位在線測量

        自動滴定儀

        可對PH值、電導(dǎo)率和添加劑濃度作圖

        介電常數(shù)儀

        直接測量溶劑的介電常數(shù)值

        粘度計

        用于測量溶劑及溶液的粘度

        ●代表“有"  ○代表“無"


        Omni多角度粒度及高靈敏度Zeta電位分析儀典型應(yīng)用  

        1.蛋白、免疫球蛋白、縮氨酸、DNA、RNA、膠束

        2.脂質(zhì)體、外切酶體及其他生物膠體

        3.多糖、藥物制備

        4.納米顆粒、聚合物膠乳、微乳液

        5.油包水、水包油體系

        6.涂料、顏料、油漆、油墨、調(diào)色劑

        7.食品、化妝品配方

        8.陶瓷、耐火材料、廢水處理、炭黑


        Omni多角度粒度及高靈敏度Zeta電位分析儀應(yīng)用案例


        不同粒徑對Zeta電位等電點的影響       不同官能團配比對等電點的影響        Zeta電位值與細(xì)胞吸收度的關(guān)系

               通過調(diào)整顆粒的粒徑或正負(fù)電荷官能團的比例,混合電荷修飾的納米金顆粒其等電點可以在4~7之間明顯的變化,不同比例的官能團和顆粒的靜電荷對動物細(xì)胞吸收度有著重大影響。(數(shù)據(jù)摘自JACS)


        技術(shù)參數(shù)

        1.粒度測量范圍:0.3nm~10μm

        2.Zeta電位測量適用粒度范圍:1nm~100μm

        3.樣品濃度范圍:0.1ppm至40%w/v(與顆粒大小和折射率有關(guān))

        4.典型精度:1%

        5.樣品類型:蛋白、納米粒子、聚合物及分散于水或其他溶劑中的膠體樣品

        6.樣品體積:1~3ml

        7.分子量測定范圍:342~2×107Dalton

        8.電導(dǎo)率范圍:0~30S/m

        9.電泳遷移率范圍:10-11 ~ 10-7 m2 /V.s

        10.電場強度:0 ~ 60 kV/m

        11.電:*性開放式電,電材料純鈀;耐腐蝕電(選件);微量電(選件)

        12.溫控范圍與精度:-5℃~110℃,±0.1℃。

        13.pH測量范圍:1-14

        14.激光源:40mW光泵半導(dǎo)體激光器(可選5mW He-Ne激光器)

        15.檢測器:高靈敏雪崩型二管(APD)

        16.相關(guān)器:4×522個物理通道,4×1011個線性通道,采用動態(tài)采樣時間及動態(tài)延遲時間分配

        17.自動趨勢分析:對時間、溫度及其他參數(shù)

        18.散射角:15°、90°與173°

        19.室溫操作情況:10°C ~ 75°C,濕度 0% ~95%, 無冷凝

        20.大小及重量:233mm (H) x 427 mm (W) x 481 mm (D),15 kg

        21.電源:100/115/220/240 VAC, 50/60 Hz, 300 W

        22.計算機(選件):商用計算機,包括WindowTM軟件

        23.自動滴定儀(選件):獨立四泵驅(qū)動,可對pH值、電導(dǎo)率和添加劑濃度作圖


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